图8 a 图8 b （5）液体介质中的尖端电晕（图9 a），波形特征：放电出现在两个半周上，对称地分布在电压峰值两则。每一组放电均为等间隔，但一组幅值较大的放电先出现，随试验电压升高而幅度增大，不一定等幅值：一组幅值小的放电幅值相等，并且不随电压变化（如图9 b所示）。原因：绝缘液体中尖端或边缘放电，如一组大的放电出现在正半周，则尖端处于高压；如它出现在负半周，则尖端处于地电位。 图9 a 图9 b （6）接触不良（图10），波形特征：对称分布在试验电压零点两侧，幅值大致不变，但在试验电压峰值附近下降为零，波形粗糙不清晰。低电压下即出现，电压增大时，幅值缓慢增加，有时在电压达到一定值后完全消失。原因：试验电路中金属与金属不良接触的连接点；塑料电缆屏蔽层半导体粒子的不良接触；电容器铝箔的插接片等（可将电容器充电然后短路来消除）。 图10 （7）局部放电测试仪可控硅元件（图11 a），波形特征：位置固定，每只元件产生一个独立讯号。电路接通，电磁耦合效应增强时，讯号幅值增加。试验调压时，该脉冲讯号会产生高频波形展宽，从而占位增加（图11 b），原因：邻近有可控硅元件在运行。 图11 a 图11 b （8）局部放电测试仪继电器、接触器、辉光管等动作（图12），波形特征：波形不规则或间断出现， 同试验电压无关。原因：热继电器、接触器和各种火花试验器及有火花放电的记录器动作时产生。 图 12
